不确定性是始终存在的，对误差来源的评估可以帮助确定测量的不确定度。除上述外，还有一些相关术语在依据美国 标准与技术研究所（NIST）或其它标准机构的说明文件来描绘性能时会有用。可描述性是保证所有的测量器件有一个共同的基准所必须的。所谓“规范”是指保证性能由校准溯源到NIST的测试设备产生。“典型”往往意味着性能是 测试，但不包括测量不确定因素。“象征性”的表现通常是补充信息，不是在每个仪器上的普遍测量。但实际情况却相差很远，并不是电容越大对高速电路越有利，反而小电容才能被应用于高频。滤波电容用在电源整流电路中，用来滤除交流成分，使输出的直流更平滑。去耦电容用在放大电路中不需要交流的地方，用来消除自激，使放大器稳定工作。旁路电容用在有电阻连接时，接在电阻两端使交流信号顺利通过。关于去耦电容蓄能作用的理解去耦电容主要是去除高频如RF信号的干扰，干扰的进入方式是通过电磁辐射。而实际上，芯片附近的电容还有蓄能的作用，这是第二位的。怎么样让光标法测的更准？光标法测量，以测量一个方波信号的脉宽为例，相信有很多工程师都如下图这样操作的。然而光标测量结果494ns，自动测量结果却是47.1ns，相差24ns。为什么会出现这种情况呢？示波器自动测量的门限是为Vtop与Vbase之间5%的位置，所以测量的结果也是以5%处为准，这种测量方法也更为科学。在用光标测量时，如果将测量点选在Vtop与Vbase的5%处，这样测出的结果便和自动测量结果相差无几了。
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不需要“ ”数字测试性能；但对于测试灵活性和功能的需求较大的情况，高速数字模块则尤其重要。测试系统和相关的数字子系统可以支持传统和当代电子组件组合的测试，因为这种测试系统被广泛用于现场服务产品以及在工厂中测试新代产品。更具体地说，现场部署的测试系统（中所示的VIPER/T）具有尺寸和功耗的附加限制—要求系统具有便携式，并且具有高可靠性。：VIPER/T测试系统数字子系统相关的功能包括：支持至少50MHz的矢量速率，每个引脚的时序，多个时间集和灵活的定序器。为了将误差降低到，电阻模块应当有一个小的热电动势，并且使用误差较低的电流进行测量，以10mA的电流重复上述测量时可将误差降低到0.1%。使用四线制测量系统没有帮助，尽管它消除了引线电阻的影响。或者，如果热电动势的数据没有明显的时变时，你可以通过翻转DMM的极性并取两个读数的平均值来测量它们的影响。这样可以确认真正的阻值是多少，在应用电路中可能不会这样，但是用户应该了解。一些DMM在测量电阻时具有测量电压偏移的功能，这个可以用来补偿电阻测量，而不必逆转电流极性。
从上述原理可知，谐波源负载是否会对同一个电网上的电子设备造成干扰，主要取决于电子设备的电源线输入端电压谐波畸变的大小，以及电子设备供电电源的抗干扰能力。谐波源负载产生同样的谐波电流的情况下，与变压器之间的距离越远，则对应的电网阻抗越大，引起的电压畸变就越大，越容易对同一个电网上的电子设备形成干扰。而不同的电子设备抗畸变电压的能力也有优劣之分，在同一供电网络，某台电子设备会受干扰，并不意味着所有的电子设备在这个位置都会受干扰。
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