上升时间的定义上升时间是信号上升快慢的数值，那其准确的内涵该是如何定义了？说来话长，因为定义是比较严谨的，一环套一环。按常规理论：信号的上升时间是正向沿的较低阈值交叉点与较高阈值交叉点之间的时差。顾名思义，上升时间肯定是在信号的上升沿时测量的；较低阈值、较高阈值的设定值在某些示波器中是可以自定义的，默认为10%、90%幅值处。而幅值的定义，就是顶部值（Top）与底部值（Bottom）之差。顶部值，即波形较高部分的众数。另外，由于相位测量电路通常采用过零检测法，而交流电零点附近不可避免会有一定的毛，相位测量精度较低。在低功率因数下的功率测量准确度亦较低。模拟乘法器法采用模拟乘法器获取电压、电流的乘积，得到瞬时功率，再用固定的时间对瞬时功率进行积分，即可获得瞬时功率的平均值，也就是有功功率。该方法适用任意波形电量的有功功率测量。功率分析仪的测量基本原理以功率分析仪PA8000为例，测量的基本原理如下：功率分析仪采样电流和电压信号功率分析仪的每个测量通道，对输入的电流或者电压信号进行采样，对采样得到的数据按照特定公式计算得到结果。FPGA方法一般成本较高，但如果项目需要大量逻辑，这就是一种高成本效益的方法。这些器件对于构建ASI小批量产品的原型而言 价值。这类应用的上市时间至关重要，而较大型产品需要持续的硬件灵活性。微控制器搭配逻辑与FPGA搭配CPU，这两种器件类型都能为现场硬件灵活性。一旦基于闪存的器件成为常规，现场升级就会成为标准。 早设计人员只能够升级固件，但现在硬件（逻辑）和固件都能够在现场轻松实现升级。
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为了满足传导发射限制的要求，通常使用电磁干扰(EMI)滤波器来电子产品产生的传导噪声。但是怎么选择一个现有的滤波器或者设计一个能满足需要的滤波器?工程师表现得很盲目，只有凭借经验作尝试。首先根据经验使用一个滤波器，如果不能满足要求再重新修改设计或者换另一个新的滤波器。要找到一个合适的EMI滤波器就成为一个费时且高成本的任务。电子系统产生的干扰特性解决问题首先要了解电子系统产生的总干扰情况，需要多少干扰电压才能满足标准要求?共模干扰是多少，差模干扰是多少?只有明确了这些干扰特性我们才能根据实际的需要提出要求。X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。
可燃气体检测人传感器扩散法将测量点的气体样本引到测量探头可能经过一段距离，距离的长短主要是根据传感器的设计，但采样线较长会加大测量滞后时间，该时间是采样线长度和气体从泄漏点到传感器之间流动的函数。实现自动检测和控制的首要环节。稳定性表示传感器在一个较长的时间内保持其性能参数的能力。传感器的特性参数都不随时间变化。但实际上，随着时间的推移，大多数传感器的特性会发生改变。这是因为敏感元件或构成传感器的部件，其特性会随时间发生变化，从而影响传感器稳定性。
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