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文章来源:yndl1381 发布时间:2024-05-15 03:15:45

由P区引出的电极为阳极,由N区引出的电极为阴极,如下图所示,温度对二极管的性能有较大的影响,这是由于半导体材料的特性所致,温度升高时,二极管的正向压降将减小,每增加1oC,正向压降减小约2mV,可以从下图看出,由半导体理论可以得出,PN结所加端电压u与流过它的电流i的关系为:其中,Is为反向饱和电流,对于硅材料来说,Is约为10pA;q为电子的电量,q=1.6*10-9C K;T为温度,kT/q可以用UT来代替,则常温下,即T=300K时,UT约为26mV。同时实现零门槛的zigbee组网使用。传统zigbee协议:了解zigbee协议、基于第三方库编程发、测试网络健壮性及稳定性并反复调试、规划应用网络、启动等待组网、实现zigbee通讯。Fastzigbee协议:黑匣子,软件配置,布网,实现zigbee组网通讯。zigbee协议的对比传统的zigbee通讯协议节点类型分为3种:协调器、路由器、终端节点。用户自行发需从zigbee的底层通讯机制到用户API的了解掌握,并且由于无线协议的复杂性和无线实验环境搭建的高额成本,导致超过50%的用户存在zigbee通讯的隐性问题。在实际应用过程中,电容老化测试设备内部可编程电源输出的合理纹波和数米长线缆上耦合的高频噪声容易干扰漏电流检测结果。可编程电源输出经过数米长线缆后, 终注入电容LC测试功能模块。当干扰噪声严重时,现场实际测量的uA级漏电流结果误差增大,甚至可能出现负值,造成产品测试异常,带来终端客户抱怨。我们如何才能在工厂内部复杂电磁环境下确保电容样品漏电流特性的高精度测量呢?下面分享某电容老化测试客户高精度供电干扰改善案例,利用TDK-Lambda业界的可编程电源匹配合理外围方案,从而解决传统电容老化客户普遍面临的痛点问题。

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当波形捕获出来后很多工程师觉得波形占屏幕2格就可以很清晰了,没必要将波形调到铺满屏幕格子去看。其实这是一个误区,今天我们就来看看为什么要让波形铺满示波器屏幕的格子。2格显示和尽量满格显示 明显的就是,波形被“拉长”了,也就是垂直档位变小了,而垂直档位的变化直接影响了垂直测量的准确性。这其中 重要就是示波器8位ADC与垂直量测量的关系。尺子测量就比如用1米尺子和用10厘米的尺子去量1.6cm的物件,米尺可能量出来的就是2cm,或很难去估算,而10厘米的尺子量出来的就是1.6cm。MOX传感器MCM设备的组成。测试系统需求为了测试这些设备,测试系统需要具备以下功能和属性:测试/校准MOX传感器的时间可能需要几十分钟。由于需要在真空和目标气体“浸泡”传感器,所以需要很长的“soak”时间。显然,使用大型、高性能的半导体测试仪,在soak期间需要闲置一段时间,这样不能有效的利用这些昂贵的资源。所以,解决方案必须具有较低的初始资本成本。测试吞吐量很重要。由于驻留时间长,因此系统必须支持非常大的并行测试能力,这样才能将soak时间内分摊到多个设备上DUT负载板必须位于一个可以对气体浓度进行控制的封闭环境中。

缓冲滤波电路具体-3dB频率响应计算如式1ADC芯片内部PGA采用仪表放大器结构大幅度衰减共模工频干扰,且内置数字器,对输入信号进行数字滤波,其中数字滤波算法频率响应如所示,数字滤波算法的陷波点在10Hz、20Hz、40Hz、80Hz频率的整数倍处响应,所以选择10Hz频率的输出,可以一定程度的衰减50Hz工频扰动。数字滤波器频率响应结合电气隔离方案从源头处防止50Hz工频从电源处传导进入系统影响敏感信号采集端。